Máy gia tốc HUS Pelletron

Máy gia tốc NEC 5SDH-2 Tandem Pelletron. Hệ máy gia tốc dùng cho nghiên cứu cơ bản đầu tiên và duy nhất của Viêt Nam. Ứng dụng các kỹ thuật phân tích dùng chùm ion (Ion beam analysis) và cấy ion (MeV-ion implantation) trong nghiên cứu vật liệu, môi trường, địa chất v.v...

Tìm hiểu thêm


Các phương pháp phân tích dùng chùm ion

Các phương pháp phân tích dùng chùm ion (Ion beam analysis -IBA) là một nhánh của các phương pháp phân tích hiện đại sử dụng chùm ion năng lượng cỡ MeV để xác định thành phần nguyên tố và phân bố theo chiều sâu của nguyên tố trên lớp gần bề mặt của các vật liệu rắn. Tất cả các phương pháp IBA đều có độ nhạy rất cao và cho phép phát hiện được các nguyên tố ở cấp độ sub-monolayer. Độ phân giải chiều dày nằm trong khoảng từ vài đến vài chục nano mét. Các phương pháp phân tích IBA đều có tính định lượng cao với độ chính các khoảng vài phần trăm. Trong đó phương pháp phân tích phân kênh (channeling) cho phép xác định phân bố theo chiều sâu các sai hỏng của các đơn tinh thể [*]

IBA Intro

Các nguồn ion

Nhiều loại chùm hạt tích điện (ion) có thể được gia tốc sử dụng hai nguồn ion: Nguồn ion trao đổi điện tích RF của NEC (RF Alphatross) and Nguồn ion âm phún xạ Cesium (SNICS). Xem Danh sách các nguồn ion có sẵn để biết thêm chi tiết.

Máy gia tốc

Cấu hình gia tốc hai lần (Tandem) với hệ tước electron dùng khí Nitơ và thế tĩnh điện tạo bởi hệ thống xích tải điện Pelletron, có khả năng tạo ra thế đỉnh lên tới 1.7 triệu Vôn. Điều này cho phép chùm hạt proton có thể được gia tốc tới năng lượng cực đại 3.4 MeV với cường độ dòng từ 1-1000 nA.

Các kênh ứng dụng

Hệ máy gia tốc hiện tại có 2 kênh dẫn dòng ra: Kênh cấy ion Kênh phân tích dùng chùm ion (IBA). Các ứng dụng cụ thể của các kênh ra này bao gồm: Phân tích tán xạ ngược Rutherford (RBS) và phân tích phân kênh (channeling), Phân tích dùng hạt giật lùi (ERDA), Phân tích sử dụng phản ứng hạt nhân(NRA), Phân tích phát xạ tia X từ chùm hạt (PIXE) and Cấy ion năng lượng MeV.


Liên kết

HUS Logo
FOP Logo
NEC Logo